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    涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

    涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

    簡要描述:
    涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

    技術參數
    顯示屏
    液晶屏+OLED耐低溫屏
    主機尺寸
    100* 60* 24mm
    重量(含電池)
    80g

    產品時間:2023-06-16

    訪問量:1051

    廠商性質:生產廠家

    生產地址:

    品牌其他品牌

    涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

    技術參數
    顯示屏
    液晶屏+OLED耐低溫屏
    主機尺寸
    100* 60* 24mm
    重量(含電池)
    80g

    涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

    測頭
    紅寶石
    測量原理
    Fe:霍爾效應/NFe:電渦流效應
    探頭類型
    內置-體式
    測量范圍
    0.0um - 2000μm
    0.1μm: (0um-99.9μm)
    分辨率
    1μm: (100μm- 999μm)
    0.01mm: (1.00mm-2.00mm)
    測量精度
    ≤土(39%讀數+2μm)
    單位.
    μm/ mil
    測量間隔
    0.5S
    小測量區域
    0=25mm
    小曲率半徑
    凸面: 5mm/凹面: 25mm
    小基體厚度
    Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm
    供電方式
    2節1.5V AAA堿性電池
    工作溫度范圍
    -20°C~50°C
    -40°C~50°C
    儲存溫度范圍
    -20°C~60°C
    -50°C~60°C


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